FIB分析

　　產品表面存在微納米級缺陷，如異物、腐蝕、氧化等問題，需觀察缺陷與基材的界面情況，利用FIB就可以準確定位切割，制備缺陷位置截面樣品，再利用SEM觀察界面情況。

　　微米級尺寸的樣品，經過表面處理形成薄膜，需要觀察薄膜的結構、與基材的結合程度，可利用FIB切割制樣，再使用SEM觀察。

中析研究所檢測優勢

　　1、中析研究所是一家集體所有制研究所單位，被評選為國家高新技術企業，檢測范圍廣。

　　2、實驗室工程師技術人員從事檢測行業多年，檢測儀器包含光譜色譜，力學試驗機，環境試驗箱，熱分析儀器等。

　　3、全國各地多家辦事處，支持郵寄樣品或工作人員上門取樣。

　　4、覆蓋工業、建筑材料、汽車、礦產、石油化工、農產品及食品、消費產品、電子電氣、健康毒理、化妝品、護理產品、醫療器械等多個領域上下游供應鏈，為生產、貿易、科研、技術研發及改進、標準研發、政府執法等提供全面、優質的專業檢測服務

　　5、簽訂保密協議，保護客戶的數據隱私。

　　6、檢測周期短，費用低，7-15天可出具全球認可的檢測報告，可為用戶提供加急服務。

檢測流程

　　1、前期咨詢溝通

　　2、確認檢測項目和樣品數量

　　3、工程師根據樣品數量和檢測項目精準報價。

　　4、客戶郵寄樣品或上門取樣。

　　5、工程師對樣品進行編號整理。

　　6、雙方確定檢測項目，簽署保密協議書。

　　7、實驗室分配人員，成立小組，安排檢測項目。

　　8、7-15個工作日完成實驗。

　　9、工程師對試驗結果和數據進行整合，出具檢測報告書。

　　10、將報告以郵寄、傳真、電子郵件等方式送至客戶手中。

　　11、工程師進行后續相關服務

中析研究所報告用途

　　性能指標改進

　　產品性能指標不達標，中析研究所工程師對樣品進行具體分析，配方改進，提高產品性能指標。

　　配方分析

　　通過光譜、色譜、核磁等精密儀器具體分析樣品成分的化學名稱和成分含量，還原產品配方。

　　工業診斷

　　產品不達標時，可通過中析研究所具體分析，確定問題是配方還是雜質原因，最后確立處理方案。

　　未知物具體分析

　　對未知物成分的構成、分子結構進行深入剖析，具體分析結果可以協助判定未知物產生的根源。

　　產品檢驗

　　提供第三方檢驗服務，如性能指標檢測、產品評估開發、原材料質檢等。

檢測機構資質證書

CMA認證

檢驗檢測機構資質認定證書

證書編號：241520345370

有效期至：2030年4月15日

CNAS認可

實驗室認可證書

證書編號：CNAS L22006

有效期至：2030年12月1日

ISO認證

質量管理體系認證證書

證書編號：ISO9001-2024001

有效期至：2027年12月31日

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