XRD圖譜分析
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發(fā)布時(shí)間:2025-07-25 08:49:03 更新時(shí)間:2025-09-14 14:35:39
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作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測(cè)中心
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X射線衍射(XRD, X-ray Diffraction)是一種基于晶體材料對(duì)X射線的衍射效應(yīng)進(jìn)行結(jié)構(gòu)分析的非破壞性檢測(cè)技術(shù)。通過(guò)分析衍射圖譜,可以獲取材料晶體結(jié)構(gòu)、物相組成、晶粒尺寸、殘余應(yīng)力等關(guān)鍵信息。本文重點(diǎn)介紹XRD技術(shù)的主要檢測(cè)項(xiàng)目及其應(yīng)用。
XRD技術(shù)的核心優(yōu)勢(shì)在于其能夠提供晶體材料的“指紋信息”,涵蓋從宏觀物相到微觀結(jié)構(gòu)的全方位檢測(cè)。隨著原位XRD、高分辨率XRD和同步輻射光源技術(shù)的發(fā)展,其在材料設(shè)計(jì)、工業(yè)檢測(cè)和科研領(lǐng)域的應(yīng)用將進(jìn)一步擴(kuò)展。
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證書(shū)編號(hào):241520345370
證書(shū)編號(hào):CNAS L22006
證書(shū)編號(hào):ISO9001-2024001

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